САФУ — Лаборатория рентгеновской спектроскопии

Лаборатория ориентирована на рентгенофлуоресцентный элементный анализ твердых образцов в диапазоне от кислорода до урана, рентгеноструктурный анализ различных материалов.

Оборудование

Волнодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр XRF-1800

Производитель — Shimadzu (Япония)

Официальный сайт

Спектрометр расширяет сферу применения волнодисперсионных рентгеновских спектрометров.

Качественный и количественный анализ в диапазоне от бериллия до урана за 2,5 минуты.
Картирование распределения элементов с шагом 250 мкм.
Локальный анализ в точке диаметром 500 мкм с помощью микроколлиматоров и встроенной цифровой камеры.
Качественный и количественный анализ с применением линий высших порядков (патент)
Определение толщины и элементного состава пленок органической природы методом фундаментальных параметров с использованием линий комптоновского рассеяния (патент), определение толщины и элементного состава неорганических покрытий.
Уникальная система пробоподачи образца.

Область применения — химия, экология, геология, изучение строительных материалов, металлургия, стекольная промышленность, целлюлозно-бумажная промышленность. Предназначен для определения элементов от Be до U в диапазоне содержаний от 0,1 мг/кг до 100%. Обеспечивает быстрый элементный анализ преимущественно твердых образцов; анализ состава строительных материалов, стекол, керамик, сталей и сплавов, ювелирных изделий, определение тяжелых металлов в почвах, определение наполнителей в бумагах, определение серы в нефтепродуктах.

Рентгеновский дифрактометр XRD-7000

Производитель — Shimadzu (Япония)

Официальный сайт

Система поликапиллярной оптики, обеспечивающая параллельный рентгеновский пучок высокой интенсивности и принципиальное улучшение соотношения пик/фон.
Противомонохроматор для снижения фона.
5-позиционный автосемплер.
Высокотемпературные (до 2300 °C) и низкотемпературные камеры.
Приставки для анализа напряжений, тонких пленок, волокон, измерения микрообразцов с использованием цифровой камеры, текстурного анализа с построением полюсных фигур.
Автономная система водяного охлаждения.
Прецизионное определение параметров решетки, определение остаточного аустенита, расчет степени кристалличности, определение размеров кристаллитов, анализ напряжений, анализ текстур, программное обеспечение Rietveld.
Качественный и количественный анализ с использованием баз данных PDF-2 и PDF-4.

Область применения — физика, химия, экология, медицина, фармацевтика, строительство, нанотехнологии, ЦБП, металлургия, геология. Прибор позволяет производить фазовый анализ твердых образцов, изучать структуру и вещественный состав стройматериалов, минералов, фармпрепаратов, сталей и сплавов, бумаги и картона, определять степень кристалличности материалов, устанавливать характеристики кристаллических решеток и строения молекул.

Заявка на исследование

Отзывы и предложения

Лаборатория рентгеновской спектроскопии

Оборудование

Волнодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр XRF-1800

Новости