Лаборатория ориентирована на рентгенофлуоресцентный элементный анализ твердых образцов в диапазоне от кислорода до урана, рентгеноструктурный анализ различных материалов.
Оборудование
Волнодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр XRF-1800
Производитель — Shimadzu (Япония)
Спектрометр расширяет сферу применения волнодисперсионных рентгеновских спектрометров.
- Качественный и количественный анализ в диапазоне от бериллия до урана за 2,5 минуты.
- Картирование распределения элементов с шагом 250 мкм.
- Локальный анализ в точке диаметром 500 мкм с помощью микроколлиматоров и встроенной цифровой камеры.
- Качественный и количественный анализ с применением линий высших порядков (патент)
- Определение толщины и элементного состава пленок органической природы методом фундаментальных параметров с использованием линий комптоновского рассеяния (патент), определение толщины и элементного состава неорганических покрытий.
- Уникальная система пробоподачи образца.
Область применения — химия, экология, геология, изучение строительных материалов, металлургия, стекольная промышленность, целлюлозно-бумажная промышленность. Предназначен для определения элементов от Be до U в диапазоне содержаний от 0,1 мг/кг до 100%. Обеспечивает быстрый элементный анализ преимущественно твердых образцов; анализ состава строительных материалов, стекол, керамик, сталей и сплавов, ювелирных изделий, определение тяжелых металлов в почвах, определение наполнителей в бумагах, определение серы в нефтепродуктах.
Рентгеновский дифрактометр XRD-7000
Производитель — Shimadzu (Япония)
- Система поликапиллярной оптики, обеспечивающая параллельный рентгеновский пучок высокой интенсивности и принципиальное улучшение соотношения пик/фон.
- Противомонохроматор для снижения фона.
5-позиционный автосемплер.- Высокотемпературные (до 2300 °C) и низкотемпературные камеры.
- Приставки для анализа напряжений, тонких пленок, волокон, измерения микрообразцов с использованием цифровой камеры, текстурного анализа с построением полюсных фигур.
- Автономная система водяного охлаждения.
- Прецизионное определение параметров решетки, определение остаточного аустенита, расчет степени кристалличности, определение размеров кристаллитов, анализ напряжений, анализ текстур, программное обеспечение Rietveld.
- Качественный и количественный анализ с использованием баз данных PDF-2 и PDF-4.
Область применения — физика, химия, экология, медицина, фармацевтика, строительство, нанотехнологии, ЦБП, металлургия, геология. Прибор позволяет производить фазовый анализ твердых образцов, изучать структуру и вещественный состав стройматериалов, минералов, фармпрепаратов, сталей и сплавов, бумаги и картона, определять степень кристалличности материалов, устанавливать характеристики кристаллических решеток и строения молекул.
- Лаборатория атомной спектроскопии
- Лаборатория молекулярной спектроскопии
- Лаборатория рентгеновской спектроскопии
- Лаборатория термического анализа и калориметрии
- Лаборатория электронной микроскопии
- Лаборатория жидкостной хроматографии и масс-спектрометрии
- Лаборатория газовой хроматографии
- Лаборатория сверхкритических флюидных технологий
- Лаборатория элементного анализа
- Лаборатория спектроскопии ядерного магнитного резонанса
- Лаборатория биохимических исследований