Лаборатория предназначена для получения изображений нанообъектов, изучения особенностей их структуры, элементного состава, состояния поверхности.
Оборудование
Электронный растровый микроскоп Zeiss SIGMA VP
Производитель — CarlZeiss (Германия)
Характерной особенностью микроскопа SIGMA является использование технологии GEMINI — технологии, обеспечивающей выдающееся качество изображения и точные аналитические результаты среди всех автоэмиссионных микроскопов с возможностью работы с материалами любого типа.
GEMINI — это электронно-оптическая колонна, представляющая собой непревзойденную по легкости управления конструкцию, способную обеспечивать великолепное изображение при низком рабочем напряжении и сверхстабильном токе пучка при проведении аналитических исследований.
Анализ материалов с получением изображения высокого разрешения обеспечивается за счет передовой геометрии колонны, как при использовании методики энергодисперсионной спектрометрии (EDS), так и при использовании волновой спектрометрии (WDS).
На новом электронном микроскопе SIGMA можно исследовать образцы диаметром до 250 мм и длиной до 145 мм. Кроме того, сопланарное размещение портов камеры микроскопа обеспечивает идеальную геометрию для одновременной работы (EDS) и детектора обратно рассеянных электронов (EBSD).
Основные технические характеристики
Пространственное разрешение |
1.3 нм при 20 кВ
|
Источник электронов |
Автоэмиссионный (термоэмиссионного типа) |
Диапазон ускоряющих напряжений |
100 В до 30 кВ |
Диапазон рабочего тока |
4 пА — 20 нА (40 нА — опционально) |
Диапазон увеличения |
12х — 1 000 000х |
Аналитические приставки — опции |
EDS (рабочее расстояние — 8,5 мм)
|
Встроенные детекторы |
Стандартно:
|
Рабочая камера |
Диаметр 365 мм, высота 270 мм;
|
Моторизованный 5-осевой столик для образцов |
X = 125 мм, Y = 125 мм, Z = 50 мм, наклон 0 — 90º, вращение 360º;
|
Графика |
Разрешение не хуже 3072 на 2304 пикселей;
|
Отображение |
1 или 2 (опция) монитора обеспечивают достоверное двухканальное изображение. |
Управление |
SmartSEM GUI под управлением Multilingual Windows® XP, управляемый мышью и клавиатурой. |
Необходимые требования |
Напряжение 100 — 230 В, 50 — 60 Гц;
|
Область применения — нанотехнологии, биология, биотехнология, стройматериалы, физика, химия. Используется в проведении исследований морфологии и химического состава образцов природного и искусственного происхождения (древесная и не древесная растительность, микрофлора, гетерогенные металлические и метало-органические каталитические системы, ферменты, биополимеры, нанопорошки, структурированные материалы).
Сканирующий зондовый микроскоп MultiMode 8
Производитель — BrukerAXS (Германия)
Сканирующий зондовый микроскоп MultiMode с момента своего создания компанией Digital Instruments завоевал заслуженную популярность среди пользователей по всему миру и стал настоящей классикой среди зондовых микроскопов: по статистике научной периодики наибольшее количество СЗМ-изображений было получено именно на микроскопах MultiMode. Широчайший спектр методик для исследования физических свойств поверхности, легендарная надежность и потрясающая простота в использовании обеспечили такую популярность линейке микроскопов MultiMode.
Жесткая, осесимметричная конструкция и малошумящая электроника обеспечивают крайне низкий уровень шумов: по вертикали (Z) не превышает 0.3 Ангстрем (RMS) на воздухе и менее 0.5 Ангстрем (RMS) в жидкости.
Открытая архитектура микроскопа позволяет быстро менять сканирующие головки, сканеры и держатели кантилеверов, подавать на образец сигналы от внешних источников, устанавливать дополнительные модули.
Области применения микроскопа: материаловедение, микробиология, нанотехнологии.
MultiMode 8 реализует следующие режимы работы на воздухе и в жидкости:
Контактный режим
Режим латеральных сил
Полуконтактный режим (tapping mode)
Режим регистрации фазы
Двухпроходный режим
Магнитно-силовая микроскопия
Электросиловая микроскопия
Кельвин-микроскопия (потенциал поверхности)
Силовая спектроскопия (в т.ч. силовое картирование)
Туннельная микроскопия и спектроскопия
Режим торсионных колебаний
Режим Harmonix
Наноиндентирование и Нанолитография
Наноманипуляции
Термическая микроскопия
Микроскопия сопротивления растекания
Туннельная АСМ
Проводящая АСМ
Емкостная микроскопия
Электрохимическая АСМ
Электрохимическая СТМ
Термостатирование образцов
PeakForceTapping
PeakForce QNM
ScanAsyst
- Лаборатория атомной спектроскопии
- Лаборатория молекулярной спектроскопии
- Лаборатория рентгеновской спектроскопии
- Лаборатория термического анализа и калориметрии
- Лаборатория электронной микроскопии
- Лаборатория жидкостной хроматографии и масс-спектрометрии
- Лаборатория газовой хроматографии
- Лаборатория сверхкритических флюидных технологий
- Лаборатория элементного анализа
- Лаборатория спектроскопии ядерного магнитного резонанса
- Лаборатория биохимических исследований
Анкета оценки удовлетворенности заказчика
Лаборатория Экоаналитических исследований
-
25/01/2022
Ученые ЦКП НО «Арктика» изучают экологические последствия пандемии COVID-19
-
14/12/2021
Четыре диссертации защищены сотрудниками ЦКП НО «Арктика» в текущем году
-
14/12/2021
Поздравляем Аникеенко Елену Александровну с успешной защитой кандидатской диссертации
-
13/12/2021
Сотрудник ЦКП НО «Арктика» САФУ возглавил международную научную ассоциацию
-
06/12/2021
Поздравляем с успешной защитой кандидатской диссертации Фалёву Анну Викторовну!