САФУ — Лаборатория электронной микроскопии

Лаборатория предназначена для получения изображений нанообъектов, изучения особенностей их структуры, элементного состава, состояния поверхности.

Оборудование

Электронный растровый микроскоп Zeiss SIGMA VP

Производитель — CarlZeiss (Германия)

Характерной особенностью микроскопа SIGMA является использование технологии GEMINI — технологии, обеспечивающей выдающееся качество изображения и точные аналитические результаты среди всех автоэмиссионных микроскопов с возможностью работы с материалами любого типа.

GEMINI — это электронно-оптическая колонна, представляющая собой непревзойденную по легкости управления конструкцию, способную обеспечивать великолепное изображение при низком рабочем напряжении и сверхстабильном токе пучка при проведении аналитических исследований.

Анализ материалов с получением изображения высокого разрешения обеспечивается за счет передовой геометрии колонны, как при использовании методики энергодисперсионной спектрометрии (EDS), так и при использовании волновой спектрометрии (WDS).

На новом электронном микроскопе SIGMA можно исследовать образцы диаметром до 250 мм и длиной до 145 мм. Кроме того, сопланарное размещение портов камеры микроскопа обеспечивает идеальную геометрию для одновременной работы (EDS) и детектора обратно рассеянных электронов (EBSD).

Основные технические характеристики

Пространственное разрешение	1.3 нм при 20 кВ 1.5 нм при 15 кВ 2,8 нм при 1 кВ
Источник электронов	Автоэмиссионный (термоэмиссионного типа)
Диапазон ускоряющих напряжений	100 В до 30 кВ
Диапазон рабочего тока	4 пА — 20 нА (40 нА — опционально)
Диапазон увеличения	12х — 1 000 000х
Аналитические приставки — опции	EDS (рабочее расстояние — 8,5 мм) EBSD (в одной плоскости с EDS) WDS (всех типов)
Встроенные детекторы	Стандартно: In-lens детектор ETSE детектор Опционально: BsE детектор AsB детектор STEM детектор SCD детектор тока образца
Рабочая камера	Диаметр 365 мм, высота 270 мм; Находящиеся в одной плоскости порты для EBSD и EDS; Порт для WDS — стандартно.
Моторизованный 5-осевой столик для образцов	X = 125 мм, Y = 125 мм, Z = 50 мм, наклон 0 — 90º, вращение 360º; Положение контролируется мышью или опциально джойстиком с панели микроскопа.
Графика	Разрешение не хуже 3072 на 2304 пикселей; Сигнал получается суммарный и усредненный.
Отображение	1 или 2 (опция) монитора обеспечивают достоверное двухканальное изображение.
Управление	SmartSEM GUI под управлением Multilingual Windows® XP, управляемый мышью и клавиатурой.
Необходимые требования	Напряжение 100 — 230 В, 50 — 60 Гц; Компрессор для воздуха; Водяное охлаждение.

Область применения — нанотехнологии, биология, биотехнология, стройматериалы, физика, химия. Используется в проведении исследований морфологии и химического состава образцов природного и искусственного происхождения (древесная и не древесная растительность, микрофлора, гетерогенные металлические и метало-органические каталитические системы, ферменты, биополимеры, нанопорошки, структурированные материалы).

Сканирующий зондовый микроскоп MultiMode 8

Производитель — BrukerAXS (Германия)

Сканирующий зондовый микроскоп MultiMode с момента своего создания компанией Digital Instruments завоевал заслуженную популярность среди пользователей по всему миру и стал настоящей классикой среди зондовых микроскопов: по статистике научной периодики наибольшее количество СЗМ-изображений было получено именно на микроскопах MultiMode. Широчайший спектр методик для исследования физических свойств поверхности, легендарная надежность и потрясающая простота в использовании обеспечили такую популярность линейке микроскопов MultiMode.

Жесткая, осесимметричная конструкция и малошумящая электроника обеспечивают крайне низкий уровень шумов: по вертикали (Z) не превышает 0.3 Ангстрем (RMS) на воздухе и менее 0.5 Ангстрем (RMS) в жидкости.

Открытая архитектура микроскопа позволяет быстро менять сканирующие головки, сканеры и держатели кантилеверов, подавать на образец сигналы от внешних источников, устанавливать дополнительные модули.

Области применения микроскопа: материаловедение, микробиология, нанотехнологии.

MultiMode 8 реализует следующие режимы работы на воздухе и в жидкости:

Контактный режим
Режим латеральных сил
Полуконтактный режим (tapping mode)
Режим регистрации фазы
Двухпроходный режим
Магнитно-силовая микроскопия
Электросиловая микроскопия
Кельвин-микроскопия (потенциал поверхности)
Силовая спектроскопия (в т.ч. силовое картирование)
Туннельная микроскопия и спектроскопия
Режим торсионных колебаний
Режим Harmonix
Наноиндентирование и Нанолитография
Наноманипуляции
Термическая микроскопия
Микроскопия сопротивления растекания
Туннельная АСМ
Проводящая АСМ
Емкостная микроскопия
Электрохимическая АСМ
Электрохимическая СТМ
Термостатирование образцов

PeakForceTapping
PeakForce QNM
ScanAsyst

Заявка на исследование

Отзывы и предложения

Лаборатория электронной микроскопии

Оборудование

Электронный растровый микроскоп Zeiss SIGMA VP

Основные технические характеристики

Сканирующий зондовый микроскоп MultiMode 8

Новости