Единая информационная служба
+7 (8182) 21-61-07

Лаборатория электронной микроскопии

Загрузка...

Лаборатория предназначена для получения изображений нанообъектов, изучения особенностей их структуры, элементного состава, состояния поверхности.

Оборудование

Электронный растровый микроскоп Zeiss SIGMA VP

Электронный растровый микроскоп Zeiss SIGMA VP

Производитель — CarlZeiss (Германия)

Характерной особенностью микроскопа SIGMA является использование технологии GEMINI — технологии, обеспечивающей выдающееся качество изображения и точные аналитические результаты среди всех автоэмиссионных микроскопов с возможностью работы с материалами любого типа.

GEMINI — это электронно-оптическая колонна, представляющая собой непревзойденную по легкости управления конструкцию, способную обеспечивать великолепное изображение при низком рабочем напряжении и сверхстабильном токе пучка при проведении аналитических исследований.

Анализ материалов с получением изображения высокого разрешения обеспечивается за счет передовой геометрии колонны, как при использовании методики энергодисперсионной спектрометрии (EDS), так и при использовании волновой спектрометрии (WDS).

На новом электронном микроскопе SIGMA можно исследовать образцы диаметром до 250 мм и длиной до 145 мм. Кроме того, сопланарное размещение портов камеры микроскопа обеспечивает идеальную геометрию для одновременной работы (EDS) и детектора обратно рассеянных электронов (EBSD).

Основные технические характеристики

Пространственное разрешение

1.3 нм при 20 кВ
1.5 нм при 15 кВ
2,8 нм при 1 кВ

Источник электронов

Автоэмиссионный (термоэмиссионного типа)

Диапазон ускоряющих напряжений

100 В до 30 кВ

Диапазон рабочего тока

4 пА — 20 нА (40 нА — опционально)

Диапазон увеличения

12х — 1 000 000х

Аналитические приставки — опции

EDS (рабочее расстояние — 8,5 мм)
EBSD (в одной плоскости с EDS)
WDS (всех типов)

Встроенные детекторы

Стандартно:
In-lens детектор
ETSE детектор

Опционально:
BsE детектор
AsB детектор
STEM детектор
SCD детектор тока образца

Рабочая камера

Диаметр 365 мм, высота 270 мм;
Находящиеся в одной плоскости порты для EBSD и EDS;
Порт для WDS — стандартно.

Моторизованный 5-осевой столик для образцов

X = 125 мм, Y = 125 мм, Z = 50 мм, наклон 0 — 90º, вращение 360º;

Положение контролируется мышью или опциально джойстиком с панели микроскопа.

Графика

Разрешение не хуже 3072 на 2304 пикселей;
Сигнал получается суммарный и усредненный.

Отображение

1 или 2 (опция) монитора обеспечивают достоверное двухканальное изображение.

Управление

SmartSEM GUI под управлением Multilingual Windows® XP, управляемый мышью и клавиатурой.

Необходимые требования

Напряжение 100 — 230 В, 50 — 60 Гц;
Компрессор для воздуха;
Водяное охлаждение.

Область применения — нанотехнологии, биология, биотехнология, стройматериалы, физика, химия. Используется в проведении исследований морфологии и химического состава образцов природного и искусственного происхождения (древесная и не древесная растительность, микрофлора, гетерогенные металлические и метало-органические каталитические системы, ферменты, биополимеры, нанопорошки, структурированные материалы).

Сканирующий зондовый микроскоп MultiMode 8

Сканирующий зондовый микроскоп MultiMode 8

Производитель — BrukerAXS (Германия)

Сканирующий зондовый микроскоп MultiMode с момента своего создания компанией Digital Instruments завоевал заслуженную популярность среди пользователей по всему миру и стал настоящей классикой среди зондовых микроскопов: по статистике научной периодики наибольшее количество СЗМ-изображений было получено именно на микроскопах MultiMode. Широчайший спектр методик для исследования физических свойств поверхности, легендарная надежность и потрясающая простота в использовании обеспечили такую популярность линейке микроскопов MultiMode.

Жесткая, осесимметричная конструкция и малошумящая электроника обеспечивают крайне низкий уровень шумов: по вертикали (Z) не превышает 0.3 Ангстрем (RMS) на воздухе и менее 0.5 Ангстрем (RMS) в жидкости.

Открытая архитектура микроскопа позволяет быстро менять сканирующие головки, сканеры и держатели кантилеверов, подавать на образец сигналы от внешних источников, устанавливать дополнительные модули.

Области применения микроскопа: материаловедение, микробиология, нанотехнологии.

MultiMode 8 реализует следующие режимы работы на воздухе и в жидкости:

Контактный режим
Режим латеральных сил
Полуконтактный режим (tapping mode)
Режим регистрации фазы
Двухпроходный режим
Магнитно-силовая микроскопия
Электросиловая микроскопия
Кельвин-микроскопия (потенциал поверхности)
Силовая спектроскопия (в т.ч. силовое картирование)
Туннельная микроскопия и спектроскопия
Режим торсионных колебаний
Режим Harmonix
Наноиндентирование и Нанолитография
Наноманипуляции
Термическая микроскопия
Микроскопия сопротивления растекания
Туннельная АСМ
Проводящая АСМ
Емкостная микроскопия
Электрохимическая АСМ
Электрохимическая СТМ
Термостатирование образцов

PeakForceTapping
PeakForce QNM
ScanAsyst

Дата изменения страницы 08.06.2011